关于cpk,cmk,ppk的计算说明！

wazsszaw

1. CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程
CPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；
5 m/ T. ^1 w1 S$ ^4 k& @3 B) J2. 无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
. C, ?* ]5 K! ~1 PC系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。
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1.CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程
CPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；
2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
2 s* ^; X4 T# d& H" [2 `C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。
5 m+ n% J; Y# H* v, I3.PPK是短期的过程能力，适合于试生产过程，确定上下控制线，进行现场 控制
. U1 |7 D. C5 z. pPPK是QS9000提出的一个新概念，物理含义是不论分布在公差范围内任何位置，它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL，取两者之间最小的一个，就是PPK
. [4 F; L; x3 x& |( S& A2 p, \4.CMK也是短期的过程能力指数，是针对设备能力的，主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定，它是vda的要求
7 K. d. c' h  F4 _( ^ PPK：短期能力指数，一般是在过程的初期计算，因为这个时候的过程受到人、机、料、法、环的特殊原因影响，导致过程不稳定。这个时候的首要任务是让过程稳定下来，因此此时应连续监控过程或在较短时间内分组来监控过程，计算出来的能力指数就是PPK。I
4 N* W! A* ~, C  ?( qCPK：长期能力指数，该指数必须是在过程人、机、料、法、环、测都稳定的情况下计算，也就是在初始研究后，你的控制图显示过程要受控后，方可开始研究CPK。这个时候分组的时间间隔应该较长，以反映过程在较长时间内的误差（也就是子组之间的误差），应当忽略在较短时间内抽样的误差（也就是子组内的误差）。
( ?4 x0 g  W% d' E: MACMK：设备能力指数，跟PPK有相似之处，不同的在于它侧重反映设备满足特性的程度，要求必须将人、料、法、环标准化，只反映设备的影响。因此它的抽样一般是短时连续抽样，以排除人员、材料、加工方法和环境的影响，通常CMK中包含了测量系统的变差。
2。
  ^5 Y& a7 w0 P0 x4 o9 N6 f; ~* N3 @PPK:是按每100万产品的概率来推算的,即是在按100%的基础上来推导到每100万产品的过程能力.所以过多的体现在六西格玛的领域.从我个人的理解来说PPK是在无偏移的情况下的每100万产品中来计算的过程能力.并不是初期的过程能力,在过程不受控的情况下,是不能计算过程能力的,而且也没有必要,只是说当你不知道一个过程是否受控,所以一开始就去计算.但这个时候发现不了多少问题.
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
CPK值越大表示品质越佳。
9 s5 Z; {+ q" B  e: s- O. BCPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））
Cpk——过程能力指数
4 R; j' O- ]+ \( s2 J: lCPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
$ l" ]3 E* Y4 A6 I4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
) W! ^) w0 q  {% G5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
$ _) j* _  K) h0 d. q( ]6 L( g6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
8 `+ }! P  S$ ?/ z! P9 ~. A7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
2 S+ y7 O: {# R+ C; n1 w8. 依据公式：
，
计算出制程准确度：Ca值
2 ]4 |# {- f0 o# i6 P9. 依据公式：Cp = ，
计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp ，
+ ?& I6 }- L; w: E, B计算出制程能力指数：Cpk值

8 A7 V* z# T& q3 }8 a7 q' n6 |. ^4.

螺旋线

相当详细，受教了。

zyzks111

我们做TS16949也用这个~

xueyan

我也正要学习CPK，谢谢了

down7071

非常有用,又学习了,希望大家都来分享.