关于cpk,cmk,ppk的计算说明！

wazsszaw

1. CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程
, E; m! j. V  R9 G8 k3 rCPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；
2. 无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。
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1.CPK是长期的过程能力，适合于批量生产过程
0 \, f$ V1 L' z0 `CPK是有偏移情况下的过程能力指数，产品特性均植与公差中心不重合时加以修正用；
2 e! L! R4 @5 |0 V, }2.无偏移时CP表示过程加工的质量能力，CP越大，质量能力越强，有偏移时，CPK表示过程中心与公差中心的偏移情况，CPK越大，两者偏离越小，表示的是质量能力与管理能力的综合结果。
C系列的过程能力指数是指过程的短期短期过程能力指数，P系列的过程能力指数是指过程的长期过程能力指数，使用PP和PPK的好处是可以反映系统当前的实际状态，而不要求在稳态下才可以进行计算。
% ~  ~3 f% V: M- P6 C9 ~3.PPK是短期的过程能力，适合于试生产过程，确定上下控制线，进行现场 控制
PPK是QS9000提出的一个新概念，物理含义是不论分布在公差范围内任何位置，它对于上规范限都可以计算出一个上单侧过程性能指数PPU和下单侧过程性能指数PPL，取两者之间最小的一个，就是PPK
4.CMK也是短期的过程能力指数，是针对设备能力的，主要在新采购的设备、设备调试结束后、出现产品质量问题等时候进行cmk测定，它是vda的要求
9 o/ S/ h, h) f; _2 F2 A4 ?4 j PPK：短期能力指数，一般是在过程的初期计算，因为这个时候的过程受到人、机、料、法、环的特殊原因影响，导致过程不稳定。这个时候的首要任务是让过程稳定下来，因此此时应连续监控过程或在较短时间内分组来监控过程，计算出来的能力指数就是PPK。I
, ?6 N' [8 x! y6 W1 y( NCPK：长期能力指数，该指数必须是在过程人、机、料、法、环、测都稳定的情况下计算，也就是在初始研究后，你的控制图显示过程要受控后，方可开始研究CPK。这个时候分组的时间间隔应该较长，以反映过程在较长时间内的误差（也就是子组之间的误差），应当忽略在较短时间内抽样的误差（也就是子组内的误差）。
ACMK：设备能力指数，跟PPK有相似之处，不同的在于它侧重反映设备满足特性的程度，要求必须将人、料、法、环标准化，只反映设备的影响。因此它的抽样一般是短时连续抽样，以排除人员、材料、加工方法和环境的影响，通常CMK中包含了测量系统的变差。
) t- a3 U6 g, y1 M/ p2。
: {- s# V, h" o( u$ ^) lPPK:是按每100万产品的概率来推算的,即是在按100%的基础上来推导到每100万产品的过程能力.所以过多的体现在六西格玛的领域.从我个人的理解来说PPK是在无偏移的情况下的每100万产品中来计算的过程能力.并不是初期的过程能力,在过程不受控的情况下,是不能计算过程能力的,而且也没有必要,只是说当你不知道一个过程是否受控,所以一开始就去计算.但这个时候发现不了多少问题.
CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制成能力的指标。
$ }! c2 U+ B1 n  Z* _CPK值越大表示品质越佳。
- O/ w! S; z% G8 I: G: xCPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））
1 |, G  Y/ ?8 {: W- V( B5 ]Cpk——过程能力指数
CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
Cpk应用讲议
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
+ F4 M( J' `7 ]& c0 f' T& V5 F- }+ HCa: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
2 }- i( X% J  U, F3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势)
7 q1 T, c( M2 ]- @' N( a) g4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。
) m4 b) u8 |; z( V+ K5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。
: `8 C2 h/ h3 _+ d& j8 R' k! R5 B& _6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2；
5 a- V; T! P: {! y2 _1 g5 ]8. 依据公式：
，
  N1 d2 v2 I' y6 b计算出制程准确度：Ca值
/ G* d) ?+ g! a# G# r& E& W* |9. 依据公式：Cp = ，
计算出制程精密度：Cp值
10. 依据公式：Cpk=Cp ，
计算出制程能力指数：Cpk值

4.

螺旋线

相当详细，受教了。

zyzks111

我们做TS16949也用这个~

xueyan

我也正要学习CPK，谢谢了

down7071

非常有用,又学习了,希望大家都来分享.