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发表于 2018-6-29 10:41:41
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; H' _! S3 K, i这个只是验证不同设备的测量相关性。。
V5 u, X, z/ h8 H4 D" b c
9 ^. x5 `( I# a8 C( G, T& M我说的更直白一点吧
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切片膜厚是最精确最直观的,因为目前用扫描电镜可以测量0.1微米以上的厚度毫无压力,很多地方可以做到
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而你要求的阳极膜厚,用400X的金相显微镜就可以量测,这个数据我们可以看作是真实值(会有偏差,但是可以忽略)
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* y( H8 N k# i这个时候就可以采用这种磁性膜厚仪来测量同一片产品,多次测量的数据可以看到重复性如何,取多次测量的平均值和金相测得的真实值做比较,看看偏差多少,可以人为补偿(前提是你重现性要好,重现性不好那就证明这个磁性膜厚仪不能测量)6 ~; m# _3 w G- f3 }$ [& G
+ p5 b3 ~9 M/ V) }
不知道我讲的是否够清楚。
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