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应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

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发表于 2007-8-14 20:24:18 | 显示全部楼层 |阅读模式

以下是我的个人观点,请大家讨论

0 d7 D) L9 _4 ~: G- F6 R

1.应变式传感器
  应变式传感器是把力的变化转换成电阻值的变化来进行测量的,应变片是由金属导体或半导体制成的电阻体,其阻值随力所产生的应变而变化。应变效应是导体受机械变形时,其电阻值发生变化的现象

3 E# O* Z2 g2 y! H* d

2. 压阻式传感器 
压阻式传感器的灵敏度比金属丝式应变片的灵敏度高,其精度好,而且响应频率好,工作可靠,缺点是受温度影响较大,应进行温度补偿

$ U9 I. x1 T* O! Q

压阻效应是物质受外力作用发生变形时,其电阻率发生变化的现象

/ `0 F- T( J2 A. C5 I5 g/ y

3.压电式传感器
   压电式传感器的原理是基于某些晶体材料的压电效应,目前广泛使用的压电材料有石英和钛酸钡等,当这些晶体受压力作用发生机械变形时,在其相对的两个侧面上产生异性电荷,这种现象称为“压电效应”。

* u7 n2 t; l2 U) H0 u+ u6 L- z

   压电式压力传感器不能用作静态测量,一般用于测量脉动压力,不能测量静压力;
   压电传感器产生的信号很弱而输出阻抗很高,必须根据压电传感器的输出要求,将微弱的信号经过电压放大或电荷放大(一般是电荷放大),同时把高输出阻抗变换成低输出阻抗,此信号才能被示波器或其他二次仪表接受

2 d9 b/ C8 V$ w5 r

 

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发表于 2007-8-15 00:32:02 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

萧萧天竹 网友好!5 L, z0 ?& W1 L9 C
4 D1 W$ ~4 R! {5 Y4 X
你在楼上的发言:压电式压力传感器不能用作静态测量,一般3 k6 t& l; J1 o/ V, W& a* Z5 J
用于测量脉动压力,不能测量静压力。. L( @: D; R5 n$ |& r# o

% A2 o; l5 \  v" B9 K8 f7 F: F. g你说的是对的!
0 n: |$ H1 P/ ^' |& K
! C" C) T- }! f# F* V& {我有一个办法能够让“压电式压力传感测量静压力”,既:
7 I7 {6 g/ ]. i, W$ S将压电传感器当做电容,做一振荡器,就可测量静压。
& m- |  I$ p1 d% Y) L8 J- K$ V# o, `2 {; J, k
其原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。% S5 o0 v. C) n- ^) J% b3 K& `
( l3 F' M9 ^6 d
syw  070815---00.31
 楼主| 发表于 2007-8-15 10:15:24 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

原帖由 syw开门造车 发表& ^9 b$ S# c# D( l 萧萧天竹 网友好!

你在楼上的发言:压电式压力传感器不能用作静态测量,一般
用于测量脉动压力,不能测量静压力。

你说的是对的!

我有一个办法能够让“压电式压力传感测量静压力”,既:
将压电传感器当做电容,做一振荡器,就可测量静压。

其原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。

syw 070815---00.31

5 t7 f8 M4 M; ^% Q

 

& A( P1 H0 m; `

测量静压与测量动压,用压电传感器测量有什么区别,我还是不懂

# C, V2 a7 K, y2 i

其静压测量原理是:当压力变化时,振荡器的频率就会发生变化。这是个怎样的测量原理呢?

" y* F. T; D' u0 V6 i" h7 ]

那动压测量原理是 当压力变化时,其电荷大小与压力成正比?

发表于 2007-8-16 05:15:14 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

萧萧天竹 网友好!) Z' E1 P- I  R

; T$ S- X% D+ d. K不知你对LC和RC振荡电路是否了解。" u  k$ i/ P! O' i: b2 r# Z
用“压电传感器”代替电路中的C,就能得到一个固有频率的振荡信号源。; F  w9 Q+ S# Q& I1 Q

2 J) d' C* I% s4 g/ j& z' ~用竹筷子“向压电传感器”施压,该电路的固有振荡信号的频率就会发生变化。2 ~& Q, t- s# E; F' S
8 D6 G% O9 r6 ]1 J+ A
syw  070816---05.15
发表于 2007-8-28 15:39:36 | 显示全部楼层

Re: 应变式、压阻式、压电式传感器比较---[讨论]

二楼说得已经有实际的应用。

- d7 W) S8 `$ M+ M! x

不知道两位对膜厚监控有没有了解?真空镀膜时,为了实时地检测沉积的膜的实际厚度,有一种技术就是用压电材料(石英)置于沉积室内和工件同时被镀膜。膜厚的变化(重量变化)会使石英受到的压力改变,从而这个晶振的频率发生漂移。从频率漂移量可以推论膜厚。

# v; W0 M: L" j

不过如果用这种方式测静压,貌似标定比较困难。如果动压叠加在上面的话,不知道压力变化频率和晶振频率的叠加是什么效果。信号处理俺不熟也。

发表于 2009-8-17 15:56:27 | 显示全部楼层
不是很了解,学习下
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