介绍三种常用的单片机系统RAM测试方法

chenzhonwei

方法一：
& k* E7 O" J1 M  J. n4 g$ l# }- h参考文献中给出了一种测试系统RAM的方法。该方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。
方法二：
; l+ l; g- s5 p/ D9 V; U方法1并不能完全检查出RAM的错误，在参考文献中分析介绍了一种进行RAM检测的标准算法MARCH—G。MARCH一G算法能够提供非常出色的故障覆盖率，但是所需要的测试时间是很大的。MARCH—G算法需要对全地址空间遍历3次。设地址线为”根，则CPU需对RAM访问6×2n次。
方法三：
参考文献中给出了一种通过地址信号移位来完成测试的方法。在地址信号为全O的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持0不变，这样从低位向高位逐位进行；接着在地址信号为全1的基础上，每次只使地址线Ai的信号取反一次，同时保持其他非检测地址线Aj(i≠j)的信号维持1不变，同样从低位向高位逐位进行。因此地址信号的移位其实就是按照2K(K为整数，最大值为地址总线的宽度)非线性寻址，整个所需的地址范围可以看成是以全0和全1为背景再通过移位产生的。在地址变化的同时给相应的存储单元写入不同的伪随机数据。在以上的写单元操作完成后，再倒序地将地址信号移位读出所写入的伪随机数据并进行检测。设地址线为n根，则CPU只对系统RAM中的2n+2个存储单元进行访问。
3 z; t) F  J- k5 u6 \2 J7 f
( t& a5 L8 ?3 [% a1 Y! }/ f7 I

零度开始

这是啥啊？没看懂。