|
|
发表于 2009-7-21 11:20:20
|
显示全部楼层
CPK CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。
( t; T/ N) v; [+ a3 Y. s' K- w6 Q9 O! b
制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。
1 E- y* ?4 g; H$ k7 |% J/ ~
1 h9 U; u* d- h# i* O3 x 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。
- @8 h" w R8 F3 [" L0 X! V1 L: R
( M4 h' v. }) N2 m/ B3 L1 M 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。
" T# q( M$ H7 S3 `1 k _, j
1 D3 y# k% W) E7 N CPK值越大表示品质越佳。
" v0 G6 J# p# p( N4 e- \! h3 z/ S* [8 c9 d
CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s））
& x' w2 C; ^$ [) ]4 d4 K: k1 x! d P8 }/ k
Cpk——过程能力指数 ! m7 |3 ~+ b) D
+ E# _: b9 h! u8 W ^0 ~ CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]
: }1 m+ E/ m7 L$ B( X! Y$ B/ \% z. v) `1 e$ Z
Cpk应用讲议
+ b) ]; A, x7 s: S/ r/ }% Y* K: Y- ~0 B# k+ v' M7 p
1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。
: N! F4 @+ a+ C# T2 ]. \ T& l: K# P; h' s7 x# G
2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp.
" I1 b9 J9 I( {( @, L8 S
: ?# Z+ L2 U! Q4 d+ c" T- z# p3 a! o5 A Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。
# W H( D( T" |8 b
- T9 }2 O; T7 z 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) : P5 Y9 v9 {' J# g T0 I, g
D- G, K* N) [: Z0 ^
4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 ; Z+ [+ J: d/ I9 B% s
; G% r& G3 i2 @9 y
5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 ; `6 K8 ~6 I! \2 O: h3 C
, y! u2 E3 |4 W 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。
) `3 I$ h- m& Z
# ]7 T+ Q* ?& i* j 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8 u/ K8 `; x' F/ J, J0 E1 S" l( e1 }
+ h; F% `- W2 `5 A% } 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)
. T& r1 W( W; z$ E3 M2 \) J t" [% U) {" I. N( X
9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值 - o, A; {6 q2 h6 J4 }, B! {
# u0 ?. R% e0 O" y6 A5 K
10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 0 L2 g& l( I8 s7 `5 x" u
: O# O. n9 j# K3 d/ q6 G3 n 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）
4 A; {5 n% p p: H/ `, Z# V
' c9 ?% B& _0 T A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 4 @3 [- z$ w" _8 {+ y
$ l0 Q, H' ^: ~6 M
A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之
; [/ h. i9 T9 i2 V: [* B( z! G6 Q! w" Z1 W- o& m* ?/ q3 g8 q
A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级
. m3 z/ S2 Y3 e& j) Q, `
& d, k8 V# P4 @4 o& w1 @7 O) U B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 % s5 L8 s( b1 O0 o* | @$ z
8 x# s$ t, j+ q& S7 [
C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 ! X6 Q4 s8 G( f3 v4 g
, `3 ?1 M6 Y# X- ?7 c# w- F D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。 |
|
