環境要項
; g+ h0 y4 S0 @( X | 需求條件, S1 R) B4 M8 i- b# i( `
| 適用量測領域& W! h2 _+ b1 }1 k+ G3 |4 t
| 備註
/ ~7 A) Z9 P6 U+ q |
溫度
3 l- Y- b6 T) G/ e+ v1 c* u | 1) 20±1℃
2 S3 S h2 F8 C! s2) 23±2℃' i2 c! r6 n! E% t
| 1)長度、光學實驗室 L3 }/ A: E/ V; n$ V- | B* Y' R
2)電量及其他物理量實驗室! w3 E5 D! Z5 A2 a
| $ i' T! k* y0 C6 L# F) `: Z# E
|
相對溼度(%)" M; `+ H+ w4 T4 ^6 }9 f: i" ]
| 1) 45±5%(RH)( {1 B7 W, `/ j5 Y2 }" l0 a
2) 50±2%(RH)* [# o& k0 c% I$ d- P, E2 b' u+ S
| 1)長度、光學實驗室
* k" j( w+ g0 b" Q+ L" ]/ W2)電量及其他物理量實驗室
( `& r8 y& l% m6 l! N | 1) 20℃
' v+ d. H: B, f! I2)23℃, F8 v* d; M) v8 n/ |
|
含塵量
8 s' I/ R/ Y) P | 1)粒徑>0.5μm<7x106/m3
5 }/ r3 A$ ~/ O* w$ v2)粒徑>1.0μm<4x107/m3
( \. K- I5 N4 }" @" o+ |: x! T | 1)長度、光學實驗室
1 ^5 w! P/ R7 Z1 h2)電量及其他物理量實驗室
( z' y5 E; j" o1 ]8 S4 Z$ g | 粒徑不得大於50μm: n6 g, V4 y6 [( F/ e; t9 P3 ~
|
噪音; c* X6 U6 ^2 Y
| ≦NC 60
% B. {! k- o* l, Y* [& j | 全部實驗室! ^$ o5 t$ t& i7 v$ P0 E5 b. o% r: j
| 67sBA: f6 D# W8 r+ ^4 H8 Q
|
照度8 Z, P' a* \) `/ X- \, Y F
| ≧800 1ux
4 N7 S& \9 T7 W8 y. u- a | 全部實驗室7 Z7 v& p2 `4 [6 c# w
|
3 I* C' \$ U* ^" g; k& n { |
壓差
- c: _7 b/ b, R7 K3 ] | >10Pa. o* C" d' r& x) u' Z- W8 ~
| 全部實驗室/ r7 L4 ^$ p1 x4 l. X
| " k4 b! d/ G' @; P: d$ o
|
換氣率
; n# N$ S+ Y, X! B5 c% _/ H | ≧10次/h# v7 @% Z5 k% O2 q9 q: \5 x3 w
| 全部實驗室, L7 X( H% Z9 V3 S& B
| 無載至滿載
7 n$ C) n2 j$ M& }/ C8 e; \ |
電壓穩壓率
" ?( W3 n6 {* v* U5 K" r; v | >1%
- L* ]3 p4 ^1 k9 b5 y | 全部實驗室0 v: O% i) Q) Q, P4 c: m
|
8 z& }# C5 z# w# ?" C |
諧波失真率- l# N. k5 {! L
| >5%) \5 `/ D7 y7 r/ k2 i' Q J
| 全部實驗室
9 h( L7 y% `5 y. q2 v) T( s | 6 y( Q" ]$ z$ v0 H2 g
|
電磁干擾
1 Z5 S% z+ G9 t6 N* Q( \. Q | ≦100μV / m
) u% r( Q4 T; m2 T | 全部實驗室
8 {' ]/ ]* c6 r& z | 8 t% F% H J" I: o5 V
|
接地電阻% W8 R* N0 z( v1 l- Q* t: G
| 交流接地電阻≦5Ω8 o# \, U2 O& @! u$ X& G
直流接地電阻≦2Ω3 [7 o$ d; N! f* P/ F
| 全部實驗室6 ~) E' ?3 w0 ~7 I: b1 u
|
6 b9 ] x$ b; w6 r |
振動
+ _. k+ z) L! {5 j' K9 P) x( X$ y | 0.25μm(0.1Hz~30Hz)
6 G& b! ~6 C) ]0 S- a6 f q0.001g(30Hz~200Hz)3 Q7 \/ N B6 d. Y5 E( A
| 全部實驗室" l3 R% O3 x. z' e4 p7 T
|
% b: a$ b2 [' E+ d" M, Y |