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发表于 2018-6-29 10:41:41
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+ v7 W0 k/ h1 k; X+ Q( g6 s这个只是验证不同设备的测量相关性。。# n/ s* j6 b Z7 C, ]+ J. R
# m" F: X/ u8 }. d! P我说的更直白一点吧7 x% e' v' }( _! b( n
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切片膜厚是最精确最直观的,因为目前用扫描电镜可以测量0.1微米以上的厚度毫无压力,很多地方可以做到, L5 _3 m9 Y/ Y2 B6 b2 g
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而你要求的阳极膜厚,用400X的金相显微镜就可以量测,这个数据我们可以看作是真实值(会有偏差,但是可以忽略)1 h# c1 w! B+ z$ J
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这个时候就可以采用这种磁性膜厚仪来测量同一片产品,多次测量的数据可以看到重复性如何,取多次测量的平均值和金相测得的真实值做比较,看看偏差多少,可以人为补偿(前提是你重现性要好,重现性不好那就证明这个磁性膜厚仪不能测量)+ f5 }$ X6 s( N' l
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不知道我讲的是否够清楚。2 Y& E( Y6 } c' ]
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