两个相互干扰的形位公差该怎么测量
在测量某一形位公差时，往往会收到另一形位公差的干扰，比如，在测两个圆孔的轴线垂直度的时候，会受到两个圆孔的同轴度的影响，这样虽然能得到垂直度，但是垂直度里面有同轴度的影响，得到的垂直度不是很可信，那应该怎么正确的测量一个受到干扰的形位公差，还有有没有这样一种理论，就是两个形位公差相互干扰时，测得一个值，通过这个值的概率分布，可以得到这个值是同时满足两个形位公差。小弟愚昧，不知道这个问题提的对不对。
小弟刚工作，还需要学习的很多，谢谢给位前辈的支点
两个圆孔有同轴度公差要求，怎么还会有两个圆孔的垂直度要求 孔的同轴度保证了，如果一个孔的垂直度保证，另一个孔自然也保证了
本帖最后由 山中渔人 于 2016-8-28 15:00 编辑
同轴度保证了自然垂直度也就保证了！同轴度达不到垂直度也就达不到要求了
不存在干扰啊！
公差原则第一条——独立原则。尺寸公差与形位公差之间，形位公差之间没有关联关系，各自独立要求。
不是基准和被测面，坚决逼空。也是的话执行孔的最小实体条件原则吧。 高中的数学函数，定义域，值域，有几个变量的话就研究不了了吗？nono,这就是个简单的问题而已。你要研究值域，总的先把定义域确定下来把？说了这么多其实想表达的就是@oldpipe 大侠讲的---公差独立性原则！别这里变，那里变的，纯属扯淡！ oldpipe 发表于 2016-8-28 16:22
公差原则第一条——独立原则。尺寸公差与形位公差之间，形位公差之间没有关联关系，各自独立要求。
举个例子假如我要得到两个面的平行度，肯定是取不同点的两个面的距离，然而这两个面的平面度也有要求，那么得到的平行度里面是有平面度的误差的，
那正确的测量应该怎么测量
小弟愚昧，请赐教
请注意公差独立原则。 平面度首先是单一要素，平面度与平行度没有什么必然联系，分清楚就好